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작성일 : 13-01-21 13:10
[홀 효과 측정] HMS-5000
 글쓴이 : 에코피아(…
조회 : 5,426  

- Model 번호 : HMS-5000/AMP55T
- 가변 온도 시스템 : 80K ~ 350K.
 

 
 
1. CONSISTS OF
 
1. 메인 바디 시스템
  - 정전류원 + 반 데르 포 단자전환 장치
 
2. 0.55Tesla 자석 세트 (Model 번호: AMP55T)
  - 0.55Tesla 영구 자석(permanent magnet)
  - 도전성 샘플 마운팅 보드( conductive sample mounting board)
  - 히터(Heater)가 샘플 마운팅 보드에 내장
  -  LN2 탱크 (원형 LN2 탱크와 사각형 LN2 탱크)
  - 온도 센서(샘플보드 표면에 부착)
 
샘플 마운팅 보드 구성
모델#: SH80350K
- ① 원형 LN2 탱크
- ② 자석 뚜껑
- ③ 히터
- ④ 샘플 마운팅 보드
- ⑤ 온도센서
- ⑥ 샘플
AMP55T 자석세트 위에서 본 그림.
1) 원형 LN2 탱크
2) 카퍼(온도전달매체)-원형 LN2 탱크내
3) 모터를 이용한 자석이동
4) 자석 뚜껑.

3. Model# : RTSK-5000
  상온 (Room Temperature ) 및 액체질소 온도(LN2, 77K) 에서 측정 시 사용하시면 편리 합니다. 샘플 보드 ,자석 뚜껑, 케이블로 구성됩니다.
   - 악세서리 옵션으로 별도구매 제품입니다. (HMS-5000 풀 세트에는 포함되지 않습니다.)
   - Model# AMP55T에만 사용 가능합니다. Model#AHT55T3 에는 사용할 수 없습니다.
 

   - RT (상온Room Temp) 측정 및 액체질소 온도(77K,LN2) 에서 측정시, AMP55T(HMS-5000의 자석 세트)의 샘플 홀더(model: SH80350K) 대용으로 사용하시면 편리합니다. 단, 온도변화 컨트롤은 안됩니다.
 
4. S/W 프로그램
< HMS-5000 모델의 테스트 메인 페이지 >
 
[온도 변화에 따른 I-V, I-R 그래프] [온도 변화에 따른 캐리어 농도]
 
[온도 변화에 따른 캐리어 이동도] [온도 변화에 따른 저항률]
 
[온도 변화에 따른 홀 계수] [온도 변화에 따른 conductivity]
 
 
2. PRODUCT SPECIFICATIONS
 
1. Common Specifications

  1) General Factors
Input
Current
Resistivity
(Ω·cm)
Concentration
(1/cm2)
Mobility
(cm2/Volt·sec)
Magnetic
Flux
Density
(T)
Temperature
(K)
Measurable
sample size
1nA ~ 20mA 10-4 ~ 107 107 ~ 1021 1~ 107 0.55Tesla
(+/- 0.03T)
80K ~ 350K.
+/- 0.5℃
accuracy

5×5mm ~ 20×20mm 사이즈.
두께는 최대 2mm 이하


  2) Sample Structure 3D of Measurement Sample
  3) S/W Operation Environment Windows98/ME/2000/NT/XP/VISTA/Win7
  4) Data Index
   - Bulk, Sheet Carrier Concentration
   - N/P type 결정.
   - Resistivity
   - Carrier mobility, Hall Coefficient
   - Magneto-resistance
   - Alpha (Vertical/Horizontal ratio of resistance)
  5) Dimension
   * Size :
    - main body 440×420×140 mm (W×H×D) / Weight : 8.5 kg
    - magnet kit 700×220×280 mm (W×H×D) / Weight : 15.5 kg
  6) Materials for Measurement
   Si, SiGe, SiC, GaAs, InGaAs, InP, GaN, TCO(including ITO), AlZnO, FeCdTe, ZnO, etc.,
   all of semiconductors can be measured (N/P-type)
 
 
3. CERTIFICATION OF THE PERFORMANCE
 
  CE 마크획득 : Model# HMS-2000 – 2004년 7월 1일.
  CE 마크획득 : Model# HMS-3000 – 2005년 3월 16일
  CE 마크획득 : Model# HMS-5000 – 2009 년
  CE 마크획득 : Model# HMS-5300 – 2009 년
  CE 마크획득 : Model# HMS-5500 – 2009 년.
  특허 획득 : 홀 효과 측정 시스템 – 2010년 1월 11일
  특허 획득 : 샘플 홀더(보드) 장치 – 2010년 3월 5일.